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2017年10月 2日 (月)

認識システムの最先端 第5回 ②

続き:
 平成15年4月、名古屋工業大学に転職したころから、企業より3次元画像計測技術を用いた生産品の検査をやりたいという相談を頻繁に受けるようになった。それまで本格的な3次元計測装置を開発したことがなかったので、共同研究の委託を引き受けるかどうかで悩んでいた。しばらくして、この話をたまたま知人のホームパーティで酒飲み仲間のM社部長に相談したところ、前述の佐藤教授のところで3次元計測装置を開発していたS氏がM社に就職したと聞いた。
 佐藤教授が慶應義塾大学に移られたために、やむなくS氏は転職したということだった。さっそく、M社と共同で大学発ベンチャー「μ-skynet」を立ち上げて、共同で各種3次元計測装置の開発と高度画像処理技術者の育成を開始した。一度、開始した3次元計測装置を学会等で発表すると瞬く間に噂が広がり、あらゆる3次元計測の依頼が来るようになった。
 これまで我々は、次の計測手法による装置を開発して来た。
 (1) レーザを用いた光切断法
 (2) ステレオ画像のマッチング法
 (3) ボケを利用した合焦点法
 (4) プロジェクタを用いた空間コード符号化法
 (5) (4)の精度を向上した位相シフト法
 (6) レーザを用いた共焦点法
 (7) レーザを用いた光干渉法
   以下に、反射の影響が少ない場合の計測例を示す。
 バネは、機械部品の中でも機能や安全上、特に重要な部品であるが、その形状検査は従来の検査方法では難しく計測時間もかかる。そのため一般にはサンプル抽出による検査のみであり、全数検査は皆無に近かった。我々は、光切断法による高速な3次元計測装置を開発した。回転ステージに乗せたバネを1回転スキャンするのみで、バネ全体の複雑な形状を50μm精度の誤差で計測できる。
 さらに、2本のレーザ使用とバネ特有の外形計測に適したフィティング方法(区分的最小二乗法)を適用することで、バネ端部を除けば繰り返し精度5μmという高精度な計測を実現できた。
        ― 3次元形状計測 (1)― 2回目。





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